一、缺陷的分類 　　如果經(jīng)檢測(cè)發(fā)現(xiàn)某個(gè)硬盤不能完全正常工作，則稱這個(gè)硬盤是“有缺陷的硬盤”（Defect Hard Disk）。 　　根據(jù)維修經(jīng)驗(yàn)，硬盤的缺陷大致分為六大類 　　①壞扇區(qū)（Bad　sector），也稱缺陷扇區(qū)（Defect sector） 　?、诖诺浪欧毕荩═rack Servo defect） 　?、鄞蓬^組件缺陷（Heads assembly defect） 　　④系統(tǒng)信息錯(cuò)亂（Service information destruction） 　?、蓦娮泳€路缺陷（The board of electronics defect） 　　⑥綜合性能缺陷（Complex reliability defect） 　　1.壞扇區(qū)（也稱缺陷扇區(qū)） 指不能被正常訪問或不能被正確讀寫的扇區(qū)。一般表現(xiàn)為：高級(jí)格式化后發(fā)現(xiàn)有“壞簇（Bad Clusters）；用SCANDISK等工具檢查發(fā)現(xiàn)有“B”標(biāo)記；或用某些檢測(cè)工具發(fā)現(xiàn)有“扇區(qū)錯(cuò)誤提示”等。 　　一般每個(gè)扇區(qū)可以記錄512字節(jié)的數(shù)據(jù)，如果其中任何一個(gè)字節(jié)不正常，該扇區(qū)就屬于缺陷扇區(qū)。每個(gè)扇區(qū)除了記錄512字節(jié)的數(shù)據(jù)外，另外還記錄有一些信息：標(biāo)志信息、校驗(yàn)碼、地址信息等，其中任何一部分信息不正常都導(dǎo)致該扇區(qū)出現(xiàn)缺陷。 　　多數(shù)專業(yè)檢測(cè)軟件在檢測(cè)過程中發(fā)現(xiàn)缺陷時(shí)，都有類似的錯(cuò)誤信息提示，常見的扇區(qū)缺陷主要有幾種情況： ①校驗(yàn)錯(cuò)誤（ECC uncorrectable errors，又稱ECC錯(cuò)誤）。系統(tǒng)每次在往扇區(qū)中寫數(shù)據(jù)的同時(shí)，都根據(jù)這些數(shù)據(jù)經(jīng)過一定的算法運(yùn)算生成一個(gè)校驗(yàn)碼（ECC=Error Correction Code），并將這個(gè)校驗(yàn)碼記錄在該扇區(qū)的信息區(qū)內(nèi)。以后從這個(gè)扇區(qū)讀取數(shù)據(jù)時(shí)，都會(huì)同時(shí)讀取其校檢碼，并對(duì)數(shù)據(jù)重新運(yùn)算以檢查結(jié)果是否與校檢碼一致。如果一致，則認(rèn)為這個(gè)扇區(qū)正常，存放的數(shù)據(jù)正確有效；如果不一致，則認(rèn)為該扇區(qū)出錯(cuò)，這就是校驗(yàn)錯(cuò)誤。這是硬盤最主要的缺陷類型。導(dǎo)致這種缺陷的原因主要有：磁盤表面磁介質(zhì)損傷、硬盤寫功能不正常、校驗(yàn)碼的算法差異?！?②IDNF錯(cuò)誤（sector ID not found），即扇區(qū)標(biāo)志出錯(cuò)，造成系統(tǒng)在需要讀寫時(shí)找不到相應(yīng)的扇區(qū)。造成這個(gè)錯(cuò)誤的原因可能是系統(tǒng)參數(shù)錯(cuò)亂，導(dǎo)致內(nèi)部地址轉(zhuǎn)換錯(cuò)亂，系統(tǒng)找不到指定扇區(qū)；也有可能是某個(gè)扇區(qū)記錄的標(biāo)志信息出錯(cuò)導(dǎo)致系統(tǒng)無法正確辨別扇區(qū)。 ③AMNF錯(cuò)誤（Address Mark Not Found），即地址信息出錯(cuò)。一般是由于某個(gè)扇區(qū)記錄的地址信息出錯(cuò)，系統(tǒng)在對(duì)它訪問時(shí)發(fā)現(xiàn)其地址信息與系統(tǒng)編排的信息不一致。 　?、軌膲K標(biāo)記錯(cuò)誤（Bad block mark）。某些軟件或病毒程序可以在部分扇區(qū)強(qiáng)行寫上壞塊標(biāo)記，讓系統(tǒng)不使用這些扇區(qū)。這種情況嚴(yán)格來說不一定是硬盤本身的缺陷，但想清除這些壞塊標(biāo)記卻不容易。 2.磁道伺服缺陷 　　現(xiàn)在的硬盤大多采用嵌入式伺服，硬盤中每個(gè)正常的物理磁道都嵌入有一段或幾段信息作為伺服信息，以便磁頭在尋道時(shí)能準(zhǔn)確定位及辨別正確編號(hào)的物理磁道。如果某個(gè)物理磁道的伺服信息受損，該物理磁道就可能無法被訪問。這就是“磁道伺服缺陷”。一般表現(xiàn)為，分區(qū)過程非正常中斷；格式化過程無法完成；用檢測(cè)工具檢測(cè)時(shí)，中途退出或死機(jī)，等等。 3.磁頭組件缺陷 　　指硬盤中磁頭組件的某部分不正常，造成部分或全部物理磁頭無法正常讀寫的情況。包括磁頭磨損、磁頭接觸面臟、磁頭擺臂變形、音圈受損、磁鐵移位等。一般表現(xiàn)為通電后，磁頭動(dòng)作發(fā)出的聲音明顯不正常，硬盤無法被系統(tǒng)BIOS檢測(cè)到；無法分區(qū)格式化；格式化后發(fā)現(xiàn)從前到后都分布有大量的壞簇，等等。 4.系統(tǒng)信息錯(cuò)亂 　　每個(gè)硬盤內(nèi)部都有一個(gè)系統(tǒng)保留區(qū)（service area），里面分成若干模塊保存有許多參數(shù)和程序。硬盤在通電自檢時(shí)，要調(diào)用其中大部分程序和參數(shù)。如果能讀出那些程序和參數(shù)模塊，而且校驗(yàn)正常的話，硬盤就進(jìn)入準(zhǔn)備狀態(tài)。如果某些模塊讀不出或校驗(yàn)不正常，則該硬盤就無法進(jìn)入準(zhǔn)備狀態(tài)。一般表現(xiàn)為，PC系統(tǒng)的BIOS無法檢測(cè)到該硬盤或檢測(cè)到該硬盤卻無法對(duì)它進(jìn)行讀寫操作。如某些系列硬盤的常見問題：美鉆二代系列硬盤通電后，磁頭響一聲，馬達(dá)停轉(zhuǎn)；Fujitsu　MPG系列在通電后，磁頭正常尋道，但BIOS卻檢測(cè)不到；火球系列，系統(tǒng)能正常認(rèn)出型號(hào)，卻不能分區(qū)格式化；Western Digital的EB、BB系列，能被系統(tǒng)檢測(cè)到，卻不能分區(qū)格式化，等等。 5.電子線路缺陷 　　指硬盤的電子線路板中部分線路斷路或短路，某些電氣元件或IC芯片損壞等。有部分可以通過觀察線路板發(fā)現(xiàn)缺陷所在，有些則要通過儀器測(cè)量后才能確認(rèn)缺陷部位。一般表現(xiàn)為硬盤在通電后不能正常起轉(zhuǎn)，或者起轉(zhuǎn)后磁頭尋道不正常，等等。 6.綜合性能缺陷 　　有些硬盤在使用過程中部分芯片特性改變；或者有些硬盤受震動(dòng)后物理結(jié)構(gòu)產(chǎn)生微小變化（如馬達(dá)主軸受損）；或者有些硬盤在設(shè)計(jì)上存在缺陷……最終導(dǎo)致硬盤穩(wěn)定性差，或部分性能達(dá)不到標(biāo)準(zhǔn)要求。一般表現(xiàn)為，工作時(shí)噪音明顯增大；讀寫速度明顯太慢；同一系列的硬盤大量出現(xiàn)類似故障；某種故障時(shí)有時(shí)無等等。 二、廠家處理缺陷的方式 廠家如何保證新硬盤不會(huì)被檢測(cè)到缺陷呢？返修的硬盤又如何處理缺陷呢？首先，讓我們來認(rèn)識(shí)硬盤工廠的一些基本處理流程： 1.在生產(chǎn)線上裝配硬盤的硬件部分，用特別設(shè)備往盤片寫入伺服信號(hào)（Servo write）。 2.將硬盤的系統(tǒng)保留區(qū)（service area）格式化，并向系統(tǒng)保留區(qū)寫入程序模塊和參數(shù)模塊。系統(tǒng)保留區(qū)一般位于硬盤0物理面的最前面幾十個(gè)物理磁道。寫入的程序模塊一般用于硬盤內(nèi)部管理，如低級(jí)格式化程序、加密解密程序、自監(jiān)控程序、自動(dòng)修復(fù)程序等等。寫入的參數(shù)多達(dá)近百項(xiàng)：如型號(hào)、系列號(hào)、容量、口令、生產(chǎn)廠家與生產(chǎn)日期、配件類型、區(qū)域分配表、缺陷表、出錯(cuò)記錄、使用時(shí)間記錄、S.M.A.R.T表等等，數(shù)據(jù)量從幾百KB到幾MB不等。有時(shí)參數(shù)一經(jīng)寫入就不再改變，如型號(hào)、系列號(hào)、生產(chǎn)時(shí)間等；而有些參數(shù)則可以在使用過程中由內(nèi)部管理程序自動(dòng)修改，如出錯(cuò)記錄、使用時(shí)間記錄、S.M.A.R.T記錄等。也有些專 業(yè)的維修人員可以借助專業(yè)的工具軟件，隨意讀取、修改寫入硬盤中的程序模塊和參數(shù)模塊。 3.將所使用的盤片表面按物理地址全面掃描，檢查出所有的缺陷磁道和缺陷扇區(qū)，并將這些缺陷磁道和缺陷扇區(qū)按實(shí)際物理地址記錄在永久缺陷列表（P-list：Permanent defect list）中。這個(gè)掃描過程非常嚴(yán)格，能把不穩(wěn)定不可靠的磁道和扇區(qū)也檢查出來，視同缺陷一并處理。現(xiàn)在的硬盤密度極高，盤片生產(chǎn)過程再精密也很難完全避免缺陷磁道或缺陷扇區(qū)。一般新硬盤的P-list中都有少則數(shù)十，多則上萬個(gè)缺陷記錄。P-list是保留在系統(tǒng)保留區(qū)中，一般用戶是無法查看或修改的。有些專業(yè)的維修人員借助專業(yè)的工具軟件，可以查看或修改大部分硬盤中的P-list。 4.系統(tǒng)調(diào)用內(nèi)部低級(jí)格式化程序，根據(jù)相應(yīng)的內(nèi)部參數(shù)進(jìn)行內(nèi)部低級(jí)格式化。在內(nèi)部低級(jí)格式化過程中，對(duì)所有的磁道和扇區(qū)進(jìn)行編號(hào)、信息重寫、清零等工作。在編號(hào)時(shí)，采用跳過（skipped）的方法忽略掉記錄在P-list中的缺陷磁道和缺陷扇區(qū)，保證以后用戶不會(huì)也不能使用到那些缺陷磁道和缺陷扇區(qū)。因此，新硬盤在出售時(shí)是無法被檢測(cè)到缺陷的。如果是返修的硬盤，一般就在廠家特定的維修*進(jìn)行檢測(cè)維修。 此主題相關(guān)圖片如下： 什么是硬盤的磁道和扇區(qū)？磁道是磁盤一個(gè)面上的單個(gè)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)圓圈。如果將磁道作為一個(gè)存儲(chǔ)單元，從數(shù)據(jù)管理效率來看實(shí)在是太低了，因此，磁道被分成若干編上號(hào)的區(qū)域，稱之為扇區(qū)。這些扇區(qū)代表了磁道的分段（如圖）。在PC系統(tǒng)中，通過標(biāo)準(zhǔn)格式化的程序產(chǎn)生的扇區(qū)容量都為512字節(jié)。這里大家需注意的是“扇區(qū)”與“簇”的關(guān)系，“簇”是操作系統(tǒng)在讀或?qū)懸粋€(gè)文件時(shí)能處理的最小磁盤單元，一個(gè)簇等于一個(gè)或多個(gè)扇區(qū)。